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　　1983年，德國物理學家POCKELS首先發現某些晶體物質在外加電壓的作用下發生雙折射且雙折射兩光波之間的相位差與電壓成正比，這一物理現象稱這為POCKELS效應。

　　POCKELS效應的光纖電壓光電開關傳感器在外加電場作用下，晶體由各向同性變成各向異性的雙折射晶體。當線偏振光投身到雙折射晶體的端面，入射光束就會變成與初相角相同、而電位移矢量相互垂直的兩束光，由于它在所在晶體中的傳播速度不同，出射時有一定的相位差，采用檢偏器將相互垂直的兩出射光束變成偏振相同的相干光，產生相干涉，從而將相位調制光變成振幅調制光，將相位差的側量轉化為光強的測量，最后獲得被測電壓值V。晶體的電光系數只要測出兩束偏振光的相位差，就可以得出被測電壓的大小，這就是基于POCKELS效應電壓測量的基本原理。

　　在現有的技術條件下，要對光的相位變化進行精確的直接測量是不可能的，這里需要采用偏振光干涉的方法。